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適用范圍：

測(ce)厚儀CHY-50U適用于0-5mm范圍(wei)內各種薄膜(mo)(mo)、薄片(pian)(pian)、隔膜(mo)(mo)、復合膜(mo)(mo)、紙張(zhang)、紙板(ban)、玻(bo)璃、箔片(pian)(pian)、硅(gui)片(pian)(pian)、金(jin)屬箔片(pian)(pian)、硬片(pian)(pian)、紡織材料、固體電絕緣(yuan)體、無紡布(bu)材料等(deng)硬質(zhi)和(he)軟質(zhi)材料厚度準確(que)測(ce)量。分辨率(lv)達0.1um，廣(guang)泛應用于薄膜(mo)(mo)、鋁(lv)箔生產企(qi)業、質(zhi)檢機構等(deng)單位。擴展應用：（需特殊附件(jian)或(huo)改制）

測試原理：

測厚儀采用接(jie)觸(chu)式測試(shi)(shi)原(yuan)理，截取一(yi)定尺寸試(shi)(shi)樣，測厚儀測量(liang)頭(tou)自(zi)動降落于試(shi)(shi)樣之上，依(yi)靠固定的(de)壓力和固定的(de)接(jie)觸(chu)面積下測試(shi)(shi)出試(shi)(shi)樣的(de)厚度值。

執行標準：

GB/T 6672-2001 塑(su)料薄膜和薄片厚度測定(ding)機(ji)械測量(liang)法

GB/T 451.3-2002 紙(zhi)和紙(zhi)板厚度的測定

GB/T 6547-1998 瓦楞紙板厚(hou)度的測定法(fa)

ISO 4593-1993 塑料薄膜和薄板機械掃描測定厚(hou)度

ISO 534-2011 紙和紙板--厚度、密度和比(bi)容(rong)積的(de)測定

ISO 3034-2011 瓦楞紙(zhi)板--單張厚度的(de)測定

ASTM D374-1999 固體電工絕緣材料厚度的(de)試驗方法

ASTM D1777-1996(2007) 紡織材(cai)料(liao)厚(hou)度試(shi)驗方法

JIS K6250-1997 硫化橡(xiang)膠(jiao)及熱(re)可塑(su)性橡(xiang)膠(jiao)的物理試(shi)驗方法通則

JIS K6783-1994 農業用乙烯(xi)乙酸乙烯(xi)共聚(ju)物薄膜

JIS Z1702-1994 包裝用聚乙烯(xi)薄膜

BS 3983-1989 紙(zhi)、紙(zhi)板的(de)(de)厚度和層積緊度或單頁緊度的(de)(de)測定方(fang)法(fa)

BS 4817 瓦楞(leng)纖維紙板厚度的測定方法

TAPPI T411 紙(zhi)、紙(zhi)板、復合紙(zhi)板厚度測定(ding)

技術特征：

●彩色大液晶(jing)顯(xian)示(shi)測試結果(guo)，及(ji)每次測量值、統計(ji)值；

●測試(shi)過程(cheng)中測量(liang)頭自動升降，有效避免了人為(wei)因(yin)素造成(cheng)的(de)系統誤差;

●配(pei)備微(wei)型打印機，快速打印每次測量結果及統計大小值(zhi)、平均值(zhi)；

●支持(chi)數據實時(shi)顯示、自動(dong)統計、打印等許多實用功能(neng);

●嚴(yan)格按照標(biao)準設計的接觸面積和測量(liang)壓(ya)力，同時(shi)支持各種非標(biao)定制;

●配備(bei)專(zhuan)用(yong)自動進樣器，可一鍵實現全自動多(duo)點測量，人為誤差小；

●測(ce)(ce)試軟件提供測(ce)(ce)試結果圖形統計分析，準確直(zhi)觀地將測(ce)(ce)試結果展(zhan)示給用戶(hu)；

●配備標準(zhun)RS232接口，方便系統與電腦的外部連接和數據傳輸；

●系(xi)統程序具(ju)備ISP在線升級(ji)功能，可提供(gong)個性化服務。

設備指標:

配   置：

標(biao)準配(pei)置：測厚儀(yi)主機(ji)、標(biao)準量(liang)塊、微(wei)型打(da)印機(ji)

選(xuan)用配置(zhi)：測試軟件、通信電(dian)纜(lan)、配重砝碼、自動(dong)進樣器